静态磁滞回线测量仪适用于教学，采用静态法测量铁磁材料的特性参数，可以完整地描绘铁磁材料的 磁滞回线、初始磁化曲线、基本磁化曲线等。并进而得出材料的饱和磁矩、剩余磁矩、矫顽力、大磁能积及其它参数。

霍尔效应的测量是研究半导体的重要实验方法。利用霍尔系数和电导率的联合测量，霍尔效应测试仪可以用来确定半导体的导电类型和载流子浓度。通过测量霍尔系数与电导率温度的变化，可以确定半导体的禁带宽度、杂质电离能及迁移率的温度系数等基本参数。